• Надежное, повторяемое измерение динамических характеристик мощных полупроводников широкого диапазона (SiC, GaN).
• Измеренные характеристики включают включение, выключение, переключение, обратное восстановление, заряд шлюза и многое другое.
• Определите испытательную среду как для DUT, так и для пользователя.
• Расширяемая, модернизируемая модульная платформа позволяет тестировать все силовые устройства.

В качестве готового решения для измерений PD1500A обеспечивает надежные, повторяемые измерения полупроводников с широким диапазоном.Платформа обеспечивает безопасность пользователей и защиту измерительного оборудования системы.

Способность обеспечивать повторяемые результаты DPT основана на опыте Keysight в области измерений.низкая утечка (в диапазоне фемтоампер)В результате Keysight имеет уникальное положение, чтобы помочь вам преодолеть проблемы динамической характеристики полупроводников.

В PD1500A включены стандартные методы измерений, такие как компенсация зонда, регулировка смещения, смещение и отторжение шума общего режима.Эти методы используются в рамках инновационной топологии измерений и планировкиДля этой системы специально разработана полуавтоматизированная система калибровки (AutoCal), которая корректирует ошибки при увеличении и смещении системы.Система также использует методы де-внедрения для компенсации индуктивных паразитов в текущем шунте.

JEDEC является мировым лидером в разработке открытых стандартов и публикаций для микроэлектронной промышленности.Комитеты JEDEC обеспечивают лидерство в разработке стандартов для широкого спектра технологий.

Комитет JEDEC: JC-70 Широкополосный диапазон электрического преобразования мощности полупроводников
Стандарты JEDEC признали необходимость предоставления стандартов WBG для промышленности полупроводников.Комитет JC70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor был сформирован для обоих GaN JC70.1 и SiC JC-70.2 Каждый раздел состоит из трех рабочих групп, которые сосредоточены на процедурах надежности и квалификации, элементах и параметрах информационных листов и методах испытаний и характеристики.

Keysight активно участвует в разработке этих стандартов.

Поскольку JEDEC продолжает определять динамическое тестирование устройств WBG, некоторые стандартизированные тесты начинают появляться.

• Характеристики включения
• Характеристики отключения
• Динамическое сопротивление
• Динамический ток и напряжение
• Характеристики переключения
• Обратное возмещение
• Плата за вход
• Выводные характеристики выпуска