• Надежное, повторяемое измерение динамических характеристик мощных полупроводников широкого диапазона (SiC, GaN) для дискретных устройств и силовых модулей.
• Измеренные характеристики включают включение, выключение, переключение, обратное восстановление, заряд шлюза и многое другое.
• Изоляционный зонд True Pulse для измерения устройства верхней стороны силового модуля.
• Технология без сварки для повторяемых, надежных результатов без сварки.
• Безопасная испытательная среда как для DUT, так и для пользователя.
• Настраиваемая, расширяемая, модернизируемая, модульная платформа позволяет тестировать все силовые устройства.

Как готовое решение для измерений, PD1550A обеспечивает надежные, повторяемые измерения полупроводниковых силовых модулей с широким диапазоном.Платформа обеспечивает безопасность пользователей и защиту измерительного оборудования системыСпособность обеспечивать повторные, надежные результаты двойного импульсного теста (DPT) основана на более чем 80-летнем опыте Keysight в области измерений.С опытом, полученным в тесном сотрудничестве с клиентами и организациями по стандартизации с PD1500A, Keysight помогает клиентам преодолевать проблемы динамической характеристики силовых модулей WBG.низкая утечка (в диапазоне фемтоампер)В результате Keysight имеет уникальное положение, чтобы помочь вам преодолеть проблемы динамической характеристики полупроводников.

В PD1550A включены стандартные передовые методы измерений, такие как компенсация зонда, регулировка смещения, смещение и отторжение шума общего режима.Эти методы используются в рамках инновационной топологии измерений и планировкиДля этой системы специально разработана полуавтоматизированная система калибровки (AutoCal), которая корректирует ошибки увеличения и смещения системы.Система также использует методы де-внедрения для компенсации индуктивных паразитов в текущем шунтеТехнология True Pulse Isolate Probe для точных измерений высокой стороны Vgs и бессоединительная контактная технология позволяет повторяться надежным измерениям без необходимости сварки больших контактных подушек.

Объединенный совет по разработке электронных устройств (JEDEC) является мировым лидером в разработке открытых стандартов и публикаций для микроэлектронной промышленности.Комитеты JEDEC обеспечивают лидерство в разработке стандартов для широкого спектра технологий.

Комитет JEDEC: JC-70 Широкополосный диапазон электрического преобразования мощности полупроводников
Стандарты JEDEC признали необходимость предоставления стандартов WBG для промышленности полупроводников.Комитет JC70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor был сформирован для обоих GaN JC70.1 и SiC JC-70.2 Каждый раздел состоит из трех рабочих групп, которые сосредоточены на процедурах надежности и квалификации, элементах и параметрах информационных листов и методах испытаний и характеристики.

Keysight активно участвует в разработке этих стандартов.

Поскольку JEDEC продолжает определять динамическое тестирование устройств WBG, некоторые стандартизированные тесты начинают появляться.

• Характеристики включения
• Характеристики отключения
• Динамическое сопротивление
• Динамический ток и напряжение
• Характеристики переключения